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基于Ritz-Galerkin方法的太赫兹二极管检波器非线性分析

田遥岭 刘杰 蒋均 陆彬 邓贤进

引用本文:
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基于Ritz-Galerkin方法的太赫兹二极管检波器非线性分析

    通讯作者: 邓贤进, dxjzmx@126.com

Nonlinear analysis of diode detector in THz based on Ritz-Galerkin method

    Corresponding author: Deng Xianjin, dxjzmx@126.com
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-08-25
  • 录用日期:  2015-11-04
  • 刊出日期:  2016-02-15

基于Ritz-Galerkin方法的太赫兹二极管检波器非线性分析

    通讯作者: 邓贤进, dxjzmx@126.com
  • 1. 中国工程物理研究院 电子工程研究所, 四川 绵阳 621 900;
  • 2. 中国工程物理研究院 微系统与太赫兹研究中心, 成都 61 0200

摘要: 肖特基二极管检波器是太赫兹ASK/OOK通信系统的关键器件之一, 为了更好地分析肖特基二极管检波器的非线性特性, 从检波器的电路模型出发, 基于Ritz-Galerkin方法, 建立了检波器非线性特性的理论分析模型。并利用模型对检波器输出信号强度和灵敏度作了理论预测, 表明该理论模型能够精确预测检波器的非线性特性。最后利用该理论模型研究了输入信号强度、负载阻抗和外界温度对0.34 THz肖特基二极管检波器非线性特性的影响。结果表明随着功率的增加, 检波器由平方率区渐变至线性区只在特定条件下才成立, 在实际条件下很容易出现高阶效应。

English Abstract

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