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磁绝缘线振荡器阴极释气电离粒子模拟

董志伟 孙会芳 杨郁林 杨温渊 周前红 张芳 董烨

董志伟, 孙会芳, 杨郁林, 等. 磁绝缘线振荡器阴极释气电离粒子模拟[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28: 033023. doi: 10.11884/HPLPB201628.033023
引用本文: 董志伟, 孙会芳, 杨郁林, 等. 磁绝缘线振荡器阴极释气电离粒子模拟[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28: 033023. doi: 10.11884/HPLPB201628.033023
Dong Zhiwei, Sun Huifang, Yang Yulin, et al. Particle simulation technology of MILO cathode outgassing ionization[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28: 033023. doi: 10.11884/HPLPB201628.033023
Citation: Dong Zhiwei, Sun Huifang, Yang Yulin, et al. Particle simulation technology of MILO cathode outgassing ionization[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28: 033023. doi: 10.11884/HPLPB201628.033023

磁绝缘线振荡器阴极释气电离粒子模拟

doi: 10.11884/HPLPB201628.033023
详细信息
    通讯作者:

    孙会芳

Particle simulation technology of MILO cathode outgassing ionization

  • 摘要: 阴极释气电离产生的击穿现象是限制磁绝缘线振荡器(MILO)工作性能的一个可能因素,也是限制其重频运行的主要障碍。利用三维全电磁粒子模拟程序对高功率微波器件MILO中阴极释气电离现象的物理建模技术以及实现三维自洽运算所需的粒子模拟技术进行了分析研究。对不同相对释气率的情况进行了模拟计算,模拟计算结果表明,当释气率超过一定阈值时,电离导致的等离子体会使微波输出功率迅速下降。
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-09-08
  • 修回日期:  2015-12-11
  • 刊出日期:  2016-03-15

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