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复杂结构沿面闪络产生发展阶段模拟研究

王川 邹俭 张天爵 曾乃工

王川, 邹俭, 张天爵, 等. 复杂结构沿面闪络产生发展阶段模拟研究[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28: 095004. doi: 10.11884/HPLPB201628.151091
引用本文: 王川, 邹俭, 张天爵, 等. 复杂结构沿面闪络产生发展阶段模拟研究[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28: 095004. doi: 10.11884/HPLPB201628.151091
Wang Chuan, Zou Jian, Zhang Tianjue, et al. Simulation study of initialization and development stages of surface flashover in 3D complex structure[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28: 095004. doi: 10.11884/HPLPB201628.151091
Citation: Wang Chuan, Zou Jian, Zhang Tianjue, et al. Simulation study of initialization and development stages of surface flashover in 3D complex structure[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28: 095004. doi: 10.11884/HPLPB201628.151091

复杂结构沿面闪络产生发展阶段模拟研究

doi: 10.11884/HPLPB201628.151091

Simulation study of initialization and development stages of surface flashover in 3D complex structure

  • 摘要: 以天光Ⅱ-A装置X-pinch负载腔为例,采用包含场致发射、二次电子倍增模型的三维模拟软件OPAL,对复杂结构中真空绝缘体沿面闪络的产生与发展阶段进行了模拟研究。模拟结果表明,阳极产生的二次电子在平行于绝缘体表面的电场分量的作用下从阴极座向大半径的运动,是导致沿面闪络的主要原因。并提出了阻断沿面闪络的方法及其原理。采用阻断沿面闪络的措施后,后续多次X-pinch负载腔放电实验证明,正常的回流电流增加了近20%,真空绝缘体上的沿面闪络得到了抑制。;
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-10-30
  • 修回日期:  2016-04-07
  • 刊出日期:  2016-09-15

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