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传导冷却半导体激光阵列温度均匀化研究

韩立 徐莉 张贺

韩立, 徐莉, 张贺. 传导冷却半导体激光阵列温度均匀化研究[J]. 强激光与粒子束, 2017, 29: 111002. doi: 10.11884/HPLPB201729.170110
引用本文: 韩立, 徐莉, 张贺. 传导冷却半导体激光阵列温度均匀化研究[J]. 强激光与粒子束, 2017, 29: 111002. doi: 10.11884/HPLPB201729.170110
Han Li, Xu Li, Zhang He. Study on temperature uniformity of conduction cooled semiconductor laser array[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2017, 29: 111002. doi: 10.11884/HPLPB201729.170110
Citation: Han Li, Xu Li, Zhang He. Study on temperature uniformity of conduction cooled semiconductor laser array[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2017, 29: 111002. doi: 10.11884/HPLPB201729.170110

传导冷却半导体激光阵列温度均匀化研究

doi: 10.11884/HPLPB201729.170110

Study on temperature uniformity of conduction cooled semiconductor laser array

  • 摘要: 高功率半导体激光器阵列已经广泛应用于许多领域。Smile效应是由高功率半导体激光器阵列(巴条)本身在封装过程中与热沉之间热膨胀系数(CTE)失配导致的热应力造成的。各个发光点在横向上不在一条直线上,从而导致半导体激光阵列整体发光弯曲。较大的Smile值可以引起光束质量降低、造成光束耦合和光束整形困难。为了降低热串扰实现巴条温度均匀化,我们在传统CS热沉的基础上,引入高热导率铜基石墨烯(GCF)与孔状结构,对CS被动式制冷半导体巴条热应力分布不均导致的Smile效应进行了数值模拟与仿真分析。在热功率为60 W的条件下,一方面,当仅有GCF材料,并且其长度为8 mm时,温差从最初的7.94 ℃降低到3.65 ℃;另一方面,在合理的温升范围内,当GCF的长度为8 mm时,结合增加热沉热阻的孔状结构时,温差进一步降低到3.18 ℃。
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出版历程
  • 收稿日期:  2017-04-10
  • 修回日期:  2017-07-05
  • 刊出日期:  2017-11-15

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