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氮离子注入对聚四氟乙烯表面电荷积聚和消散特性的影响

刘畅 宋法伦 朱明冬 李春霞 张北镇 李飞 王淦平 龚海涛 甘延青 金晓

卢晶, 茆华风, 傅鹏, 等. 静止无功补偿器和发射器在电弧炉动态无功补偿系统中的应用[J]. 强激光与粒子束, 2019, 31: 056002. doi: 10.11884/HPLPB201931.180349
引用本文: 刘畅, 宋法伦, 朱明冬, 等. 氮离子注入对聚四氟乙烯表面电荷积聚和消散特性的影响[J]. 强激光与粒子束, 2020, 32: 075001. doi: 10.11884/HPLPB202032.200045
Lu Jing, Mao Huafeng, Fu Peng, et al. Application of static var compensation and static var generator in dynamic reactive power compensation system of electric arc furnace[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2019, 31: 056002. doi: 10.11884/HPLPB201931.180349
Citation: Liu Chang, Song Falun, Zhu Mingdong, et al. Influence of nitrogen ion implantation on surface charge accumulation and dissipation of polytetrafluoroethylene[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2020, 32: 075001. doi: 10.11884/HPLPB202032.200045

氮离子注入对聚四氟乙烯表面电荷积聚和消散特性的影响

doi: 10.11884/HPLPB202032.200045
基金项目: 国家自然科学基金项目(51907182);国家自然科学基金委员会与中国工程物理研究院联合基金项目(U1830129)
详细信息
    作者简介:

    刘 畅(1994—),男,硕士研究生,从事射频等离子体注入技术研究;liuchang17@gscaep.ac.cn

    通讯作者:

    宋法伦(1977—),男,博士,研究员,主要从事脉冲功率技术及等离子体材料表面处理技术研究;songfalun@caep.cn

  • 中图分类号: TM215.1

Influence of nitrogen ion implantation on surface charge accumulation and dissipation of polytetrafluoroethylene

  • 摘要: 为了抑制聚四氟乙烯材料表面电荷积聚,采用射频产生氮等离子体对其表面进行等离子体浸没离子注入以改善其表面性能。对注入前后的聚四氟乙烯材料样品进行了X射线光电子能谱分析(XPS)、傅里叶红外光谱测试(FTIR)、水接触角测量、表面电阻率测量以及表面电位衰减测量,并基于等温表面电位衰减理论对其表面陷阱能级和密度分布进行了计算,以分析聚四氟乙烯样品经离子注入处理后其表面成分和物理性能的变化,并研究了这些变化对聚四氟乙烯样品表面电荷积聚和消散特性的影响。结果表明:氮离子注入后,聚四氟乙烯材料表面化学成分的主要变化是自身分子结构的破坏和转化,部分CF2结构转变为CF和CF3结构,导致样品表面陷阱能级变浅;水接触角升至140°左右,比未处理样品上升了约27°,表面电阻率降至3×1015 Ω,比未处理样品下降了两个数量级;表面电晕放电1 min后,经氮离子注入处理的聚四氟乙烯材料表面积聚电荷量减少,消散速度加快,这是因为表面陷阱能级变浅有利于表面电荷脱陷,同时表面电阻率降低也促进了表面电荷沿面传导的消散过程,聚四氟乙烯样品表面陷阱能级分布曲线也证实了这一论点。
  • 静止无功补偿器(SVC)相对于机械投切电容器组式的无功补偿装备,实现了无功功率精确、平滑补偿,是目前较为先进实用的无功补偿装置,已经得到了广泛应用。另外,SVC装置具有良好的分相补偿能力,对于电弧炉工作中造成的三相电压、电流不平衡有着独特的治理效果; 且晶闸管比全控型半导体开关器件造价低,有着更高的额定电压电流参数,适合拓展于高压、大容量场合。静止无功发生器(SVG)有着更快的响应时间,且可以不借助于无源支路,灵活的产生容性或感性无功功率进行调节。虽受限于目前全控型开关器件的电压容量及经济成本,然而在已经装设了SVC装置的工业现场,不改动已有的无源滤波支路,使用SVG配合SVC进行剩余无功功率补偿,具有非常大的应用拓展空间。本文针对广西某钢厂电弧炉现场,通过PSCAD/EMTDC对SVC和SVG联合方案进行了系统仿真验证[1-4]

    工业现场SVC有多种类型,主要有五种型式:磁阀控制电抗器型(MCR型)、可控硅控制空芯电抗器型(TCR型)、可控硅阀控制高阻抗变压器型(TCT型)、可控硅开关控制电容器型(TSC型)及自饱和电抗器型(SSR型)。基本原理及仿真主要围绕TCR型SVC。而本文所述的某钢厂电弧炉现场的负荷及SVC+SVG补偿装置的电压等级均为35 kV,并联于同一条母线下。

    TCR型SVC的基本原理是以母线三相电压矢量为基准,SVC装置发出与负荷基波无功电流幅值相等、相位相反的基波电流抵消负荷无功,而无源支路的容性无功容量与负荷最大感性无功基本持平,晶闸管阀控制单元根据负荷功率的变化调控电抗器感值灵活控制SVC需要补偿的无功功率[5],其基本结构如图 1所示。

    图  1  TCR型SVC结构图
    Figure  1.  TCR+FC type SVC

    根据斯坦门茨(Steinmetz, Charles Proteus)平衡化补偿原理[6],控制单元根据负荷无功计算出相应的电纳值,然后由电纳值推导出相应的触发角发送到晶闸管阀组。电纳值B与触发角α的关系式为

    B(α)=1ωL2π+sin2α2απ
    (1)

    式中:ω为角频率; L为电抗值。

    而斯坦门茨平衡化原理是由三相参考电压与负荷电流分别求出各相的电纳值。其基本关系式为

    Bab=(Re(˙Ubc˜˙Ial)+Re(˙Uca˜˙Ibl)Re(˙Uab˜˙Icl))3U2ab
    (2)
    Bbc=(Re(˙Uca˜˙Ibl)+Re(˙Uab˜˙Icl)Re(˙Ubc˜˙Ial))3U2bc
    (3)
    Bca=(Re(˙Uab˜˙Icl)+Re(˙Ubc˜˙Ial)Re(˙Uca˜˙Ibl))3U2ca
    (4)

    式中:˙Uab,˙Ubc,˙Uca为母线三相参考电压矢量; ˜˙Ial,˜˙Ib1,˜˙Icl是负荷三相相电流矢量。

    根据斯坦门茨原理公式(2),(3)和(4)求出的电纳B值,由式(1)查表,分别求出三相触发角,实现无功开环算法[7],其结构如图 2所示。

    图  2  SVC控制结构框图
    Figure  2.  SVC control block

    SVG,相较于基于半控型晶闸管控制的SVC装置,有着更快的响应时间。不同于根据斯坦门茨原理来计算电路的等值电纳,SVG装置使用脉冲调制技术来驱动开关管器件。而目前常用的控制技术主要有基于快速傅里叶变换的电流控制技术和基于瞬时无功功率理论的控制方法。由于基于傅里叶变换的控制技术在原理上至少存在一个周期的延时,因此在快速响应的补偿场合,大多使用基于无功功率理论的控制方法。图 3所示典型SVG逆变器的电路拓扑。

    图  3  典型SVG逆变器的电路拓扑
    Figure  3.  Typical topology of SVG

    求解上述电路的数学模型,并将态电路函数先进行PARK变换到d-q域,然后进行拉普拉斯变换,可有

    {(sL+R)id=usdurd+wLiq(sL+R)iq=usqurq+wLidudc=32sC(Sdid+Sqiq)
    (5)

    式中:idiqiaibic经过PARK变换在旋转p-q坐标系下的分量; SaSbSc为三相桥臂的开关状态,S=1表示该相桥臂上管开通,下管关断; S=0表示该相下管导通,上管关断,经过p-q变换后为SdSq

    针对参考电流,根据瞬时无功功率理论,如图 4所示,先经p-q变换求出其在旋转坐标系下的直流量,然后经过低通滤波器、p-q反变换得出其基波无功电流的参考量[8]

    图  4  基于p-q理论的谐波检测算法
    Figure  4.  Harmonic detection algorithm based on p-q theory

    根据瞬时无功功率理论得出参考电流量后,逆变器的控制器和实际控制框图如图 5所示。

    图  5  SVG逆变器的控制框图
    Figure  5.  Control block of SVG

    在工业现场,通常将SVG装置直接并联于负荷母线下进行无功补偿[9-10]。本文提出的方案将SVG与SVC并联然后并联于同一母线的负荷下。

    广西某钢厂110 kV高压变电站母线接入最小短路容量576 MV·A,安装50 MV·A主变压器一台,主变压器中压侧负荷主要为电弧炉和精炼炉负荷,低压侧主要为高压电动机负荷,目前场内35 kV母线侧安装TCR+FC型SVC,设置2次C型、3次、4次及5次单调谐滤波支路,总基波补偿容量25 Mvar(兆乏),系统主接线如下图 6所示。

    图  6  某钢厂电弧炉系统主接线图
    Figure  6.  Main topology of EAF system in a steel mill

    而该钢厂电弧炉经过改造后,发出的无功功率远超原始无功量,因此需重新计算,并于实际比对。无功需量计算应综合考虑初炼交流电弧炉(EAF)和精炼电弧炉(LF)的最大无功发生量和同时率,工程推荐值按照下式确定

    QD=k1QEAF,max+k2QL,F,max
    (6)

    式中:k1为EAF无功发生量的计算系数,工程推荐值为0.9~1.2;k2为LF无功发生量的计算系数,工程推荐值为0.4~0.6;QEAF, max为EAF最大无功发生量,单位为兆乏(Mvar); QLF, max为LF最大无功发生量,单位为兆乏(Mvar); QD为无功需量,单位为兆乏(Mvar)。

    根据计算,EAF,LF同时运行时35 kV所需最大无功发生量为35.25 Mvar。

    35 kV母线所带轧机总装机容量为11 MV·A,取功率因数为0.7,功率因数提高至0.92,按公式可知

    Q=P(1cosφ2111cosφ221)=4.57Mvar
    (7)

    式中:φ1为EAF的功率因数角; φ2为LF的功率因数角。因此,35 kV母线总无功补偿容量为39.82 Mvar,考虑一定的补偿裕度并结合电能质量测试报告,最终确定主变35 kV母线SVC装置的基波补偿容量为40 Mvar。针对原先25 Mvar的SVC系统,出现将近15 Mvar的无功缺口。

    SVC具备良好的分相补偿能力,能更好适应三相不平衡工况,但响应时间较长; 而SVG有着更快响应时间。结合二者优点,针对该钢厂电弧炉现场无功补偿实际,仍可利用原先的SVC装置,由SVG填补电弧炉改造产生的增多的无功功率。将SVG单元前置与SVC单元之前,两装置独立检测、独立工作。先投入SVC及SVG装置,稳定之后一定时间内投入负荷无功源,使用PSCAD/EMTDC进行系统仿真,电弧炉负荷利用无功波动源模拟,仿真步长设为156 μs。系统的仿真结构图如图 7所示,SVG,SVC和无功波动源都接于35 kV母线。

    图  7  系统仿真结构图
    Figure  7.  System simulation block

    SVC控制算法是根据式(1),(2),(3),(4)编写而成的C语言模块,然后由FORTRAN文件编写接口[11-12]。而SVG单元是由基本模块串联而成的三相桥[13],控制模块根据式(5)及图 4图 5所示的控制算法搭建。SVC及SVG控制模块如图 8图 9所示。

    图  8  SVC控制模块
    Figure  8.  SVC control block
    图  9  SVG控制模块
    Figure  9.  SVG control block

    无功波动源是最大0~40 Mvar可变的三相不平衡感性无功波动源,充分模拟该钢厂的电弧炉无功功率变化。图 10为投入无功源之后TCR环内电流,可以看出三相TCR环内电流并不同步,响应了相应的不平衡。

    图  10  TCR环内电流
    Figure  10.  Phase current of TCR

    图 11为无功源投入之后,SVG发出的无功功率。SVG发出最大近16 Mvar的容性无功功率,且感性无功值基本均小于0.3 Mvar,从另一个角度可以看出SVG响应速度优异。

    图  11  SVG发出的无功量
    Figure  11.  Reactive power generated by SVG

    为了考察SVG补充功率的真实效果,首先投入SVC,然后投入波动无功负荷,并不投入SVG,仿真结果如图 12所示。

    图  12  投入SVC,未投SVG负荷和母线的无功功率
    Figure  12.  Reactive power on load and grid without SVG

    图 12中,QL为负荷无功波动源无功功率,Q1_35 kV为35 kV母线处的无功功率,在4.5 s负荷产生较大的无功波动,而此时只投入SVC,母线处仍有将近18 Mvar的感性无功,这种现象在5.5 s处负荷波动中也有类似的情况,证明在进行电弧炉改造后,SVC系统并不能完全补偿负荷的无功功率; 而在5.3s处,母线有将近20Mvar的容性无功过冲,对比图 11可知,此处的容性无功冲击在SVG并没有呈现,且不是负荷造成,因此是由于SVC不能及时响应造成的,也说明SVC较SVG响应较慢[14-15]

    进一步将SVC和SVG联合注入后,如图 13所示。与图 12相比,在4.5 s和5.5 s处母线的无功缺口功率基本得到了抑制,结合图 11,SVG起到了快速抑制剩余无功的作用。

    图  13  负荷与母线的无功功率
    Figure  13.  Reactive power on load and grid with SVG and SVC

    电弧炉现场无功补偿系统进行SVC和SVG联合应用探索,需要明确两种装置各自的功能空间,即以TCR配套FC为无功功率补偿主体,并特别针对不平衡、负序等工况; 而SVG以其优良的更快速的响应性能,承担剩余无功功率抑制的任务。在这种分工前提下,参考补偿点位置至关重要,本文提出的方案SVC装置是无法捕捉到SVG功率补偿信息,即SVG参考位置在SVC上端,进行剩余无功功率补偿。但在实际中,SVC和SVG不可能同时响应,存在一定延时,因此对于容量有限的SVG,必须做前置限幅来防止过容量补偿指令带来的系统故障保护。处理完善参考点之后进行了PACAD/EMTDC系统仿真,从仿真结果来看,SVC和SVG联合应用可以起到预定的功率补偿效果,为其向广西电弧炉现场应用提供了理论和仿真级参考。

  • 图  1  等离子体浸没离子注入系统

    Figure  1.  Plasma immersion ion implantation system

    图  2  表面电位测量系统

    Figure  2.  Surface potential measurement system

    图  3  不同射频功率和处理时间下的PTFE样品XPS能谱

    Figure  3.  XPS energy spectra of PTFE samples at different RF power and different processing time

    图  4  部分PTFE样品C元素XPS能谱

    Figure  4.  XPS energy spectrum of element C of some PTFE samples

    图  5  部分PTFE样品N元素XPS能谱

    Figure  5.  XPS energy spectra of element N of some PTFE samples

    图  6  不同射频功率和处理时间下的PTFE样品FTIR光谱

    Figure  6.  FTIR spectra of PTFE samples under different RF power and processing time

    图  7  PTFE样品表面水接触角与射频功率和处理时间的关系

    Figure  7.  Relationship between water contact angle of PTFE sample surface,RF power,and processing time

    图  8  PTFE样品表面电阻率与射频功率和处理时间的关系

    Figure  8.  Relationship between surface resistivity of PTFE samples and RF power and processing time

    图  9  不同射频功率和处理时间下PTFE样品表面中心电位随时间的衰减曲线。

    Figure  9.  Decay curve of surface central potential with time for PTFE samples under different RF power and processing time

    图  10  归一化的不同射频功率和处理时间下PTFE样品表面中心电位随时间的衰减曲线

    Figure  10.  Normalized decay curve of surface center potential of PTFE samples with different RF power and processing time

    图  11  不同射频功率和处理时间下的PTFE样品表面陷阱能级分布曲线

    Figure  11.  Distribution curve of trap level on PTFE sample surface under different RF power and processing time

    表  1  离子注入处理前后PTFE样品表面C元素各状态含量比例

    Table  1.   Proportion of content of element C in PTFE sample surface before and after ion implantation

    RF power/Wprocessing time/hproportion/%
    CC=OCFCF2CF3
    0 0 31.1 8.4 1.4 58.2 0.8
    200 1 32.2 5.3 1.5 59.5 1.6
    200 2 17.4 5.3 2.1 72.9 2.2
    400 2 16.6 5.0 2.1 69.5 6.7
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    表  2  不同射频功率和处理时间下的PTFE样品表面陷阱能级和密度

    Table  2.   Energy level and density of traps on the surface of PTFE samples under different RF power and processing time

    RF power/Wprocessing time/hsurface trap level/eVsurface trap density/(1020 eV−1·m−3
    000.7569.82
    20010.7549.19
    20020.7558.56
    40020.7357.04
    下载: 导出CSV
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出版历程
  • 收稿日期:  2020-02-25
  • 修回日期:  2020-04-22
  • 刊出日期:  2020-06-24

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