留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

大口径光学元件中频波前的检测

邓燕 王翔峰 嵇保建 石琦凯

邓燕, 王翔峰, 嵇保建, 等. 大口径光学元件中频波前的检测[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 3333-3337. doi: 3333
引用本文: 邓燕, 王翔峰, 嵇保建, 等. 大口径光学元件中频波前的检测[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 3333-3337. doi: 3333
Deng Yan, Wang Xiangfeng, Ji Baojian, et al. Measurement of mid-frequency wavefront for large-aperture optics[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 3333-3337. doi: 3333
Citation: Deng Yan, Wang Xiangfeng, Ji Baojian, et al. Measurement of mid-frequency wavefront for large-aperture optics[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 3333-3337. doi: 3333

大口径光学元件中频波前的检测

doi: 3333
详细信息
    通讯作者:

    邓燕

Measurement of mid-frequency wavefront for large-aperture optics

  • 摘要: 大口径光学元件中频波前的准确评价已成为高功率激光系统中关注的焦点,元件中频波前均方根值是重要评价指标之一。根据波前中频检测频段及波前检测设备频响特性,将波前的中频区域分为两个检测频段,分别采用干涉仪和光学轮廓仪实现了中频波前均方根值的检测。采用大口径干涉仪可实现全口径波前中频区域低频段波前的检测,通过比对大口径干涉仪和采用小口径干涉仪结合分块融合平均方法的检测结果,提出采用分块融合平均方法也可检测相应频段全口径波前均方根。采用光学轮廓仪通过离散采样的方法检测大口径元件中频区域高频段波前均方根,针对不同离散采样方式的实验结果表明:33的采样方式能满足对410 mm410 mm口径元件中频区域高频段波前均方根的检测。
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  1177
  • HTML全文浏览量:  158
  • PDF下载量:  312
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2013-07-22
  • 修回日期:  2013-08-15
  • 刊出日期:  2013-12-15

目录

    /

    返回文章
    返回