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一台入射距离为155mm的XUV平场光谱仪

李英骏,  张保汉,  杨建伦,  张杰

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李英骏, 张保汉, 杨建伦, 等. 一台入射距离为155mm的XUV平场光谱仪[J]. 强激光与粒子束, 2000, 12(05).
引用本文: 李英骏, 张保汉, 杨建伦, 等. 一台入射距离为155mm的XUV平场光谱仪[J]. 强激光与粒子束, 2000, 12(05).
shu

一台入射距离为155mm的XUV平场光谱仪

  • 1.

    中国科学院物理研究所,北京603-04信箱,1 00080;

  • 2.

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,绵阳91 9-21 6信箱,621 900

    摘要
  • 摘要: 利用光路追踪程序对不同入射距离的变栅距平场光栅的成象进行了研究和设计。在此基础上研制了一台与传统平场光栅谱仪不同的入射狭逢到光栅中心距离为155mm的掠入射平焦场谱仪。该谱仪的波段范围为4~40nm，光谱分辨率为0.01nm。利用该谱仪成功地获得了Ti元素的激光等离子体光谱。
    Abstract: Using a ray-tracing code, we have designed a flat-field grazing-incidence spectrometer with 155mm incident distance. This is different from the conventional design for a flat-field grazing-incidence spectrometer. This spectrometer has good spectral resolution as well as smaller size and improved flexibility. The spectrum covers wavelenth ranges of 4nm-40nm and the spectral resolution is 0.01nm.
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  • 刊出日期:  2000-10-15

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