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电子束装置运行稳定性的测量

高劭宏,  赵永蓬,  王振胥,  刘学龙,  刘金成,  王骐

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高劭宏, 赵永蓬, 王振胥, 等. 电子束装置运行稳定性的测量[J]. 强激光与粒子束, 1997, 09(04).
引用本文: 高劭宏, 赵永蓬, 王振胥, 等. 电子束装置运行稳定性的测量[J]. 强激光与粒子束, 1997, 09(04).
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电子束装置运行稳定性的测量

  • 1.

    哈尔滨工业大学光电子技术研究所,1 50001

    摘要
  • 摘要: 为了验证电子束装置的稳定性,分别对电流波形、电压波形进行了多次测量,对二极管放电时注入腔中电子均匀性进行了探测,最后改变二极管真空度测量了泵浦氩的荧光 谱的稳定性。
    Abstract: Ｉｎ　ｏｒｄｅｒ　ｔｏ　ｔｅｓｔ　ｔｈｅ　ｓｔａｂｉｌｉｔｙ ｏｆｔｈｅ　ｅｌｅｃｔｒｏｎ　ｂｅａｍ　ｄｅｖｉｃｅ，ｔｈｅ　ｗａｖｅｆｏｒｍｓ ｏｆｖｏｌｔａｇｅ　ａｎｄ　ｃｕｒｒｅｎｔ　ａｒｅ　ｍｅａｓｕｒｅｄ　ｆｏｒ　 ｍａｎｙｔｉｍｅｓ．Ｔｈｅ　ｈｏｍｏｇｅｎｅｉｔｙ　ｏｆ　ｅｌｅｃｔｒｏｎ　ｉｎ　 ｃａｖｉｔｙｉｓ　ｐｒｏｂｅｄ　ｗｈｅｎ　ｔｈｅ　ｄｉｏｄｅ　ｄｉｓｃｈａｒｇｅｓ． Ｆｉｎａｌｌｙｃｈａｎｇｉｎｇ　ｔｈｅ　ｖａｃｃｕｍ　ｏｆ　ｄｉｏｄｅ，ｗｅ　 ｍｅａｓｕｒｅ　ｔｈｅｓｔａｂｉｌｉｔｙ　ｏｆ　ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ　 ｓｐｅｃｔｒａ　ｏｆ　ａｒｇｏｎｐｕｍｐｅｄ　ｂｙ　ｅｌｅｃｔｒｏｎ　ｂｅａｍ．
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  • 刊出日期:  1997-04-15

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