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X射线用Kirkpatrick-Baez显微镜成像质量的研究

潘宁宁 王占山 顾春时 秦树基 陈玲燕

潘宁宁, 王占山, 顾春时, 等. X射线用Kirkpatrick-Baez显微镜成像质量的研究[J]. 强激光与粒子束, 2006, 18(01).
引用本文: 潘宁宁, 王占山, 顾春时, 等. X射线用Kirkpatrick-Baez显微镜成像质量的研究[J]. 强激光与粒子束, 2006, 18(01).
pan ning-ning, wang zhan-shan, gu chun-shi, et al. Image quality with Kirkpatrick-Baez microscope in hard X-ray[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2006, 18.
Citation: pan ning-ning, wang zhan-shan, gu chun-shi, et al. Image quality with Kirkpatrick-Baez microscope in hard X-ray[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2006, 18.

X射线用Kirkpatrick-Baez显微镜成像质量的研究

Image quality with Kirkpatrick-Baez microscope in hard X-ray

  • 摘要: 对惯性约束聚变的一种重要诊断方法-Kirkpatrick-Baez型结构显微镜成像方法进行了研究。计算了Kirkpatrick-Baez型结构显微镜的主要像差,并分析得出:造成轴上点像差的主要因素是球差,占像差的94%。基于光线追迹方法模拟出这种结构的成像过程,比较了不同反射镜长随视场变化对物面分辨率的影响,发现为了保证物面的空间分辨率能达到ICF研究要求视场应尽量控制在200 μm以内。最终得出能量在8 keV、视场为200 μm,分辨率小于10 μm的Kirkpatrick-Baez型结构的模型。提出在装调过程中重要公差计算方法,得到数值孔径为0.003 7时,角度装调公差应在-0.087°~0.067°范围内。
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出版历程
  • 刊出日期:  2006-01-15

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