留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

X光CCD响应特性研究

杨家敏,  丁耀南,  曹磊峰,  丁永坤,  王耀梅,  张文海,  郑志坚,  崔明启,  朱佩平,  赵屹东,  黎刚

downloadPDF
文章导航 > 强激光与粒子束  > 2000 >  12(05): 0-
杨家敏, 丁耀南, 曹磊峰, 等. X光CCD响应特性研究[J]. 强激光与粒子束, 2000, 12(05).
引用本文: 杨家敏, 丁耀南, 曹磊峰, 等. X光CCD响应特性研究[J]. 强激光与粒子束, 2000, 12(05).
shu

X光CCD响应特性研究

  • 1.

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川省绵阳市91 9-21 6信箱,621 900;

  • 2.

    中国科学院北京高能物理研究所同步辐射实验室,北京91 8信箱,1 00039

    摘要
  • 摘要: 在北京同步辐射源上建立了X光CCD(Charge-Coupled Device)量子效率实验标定方法，获得了150eV至1500eV能区范围多个X光能点的量子效率实验结果，发展了X光CCD量子效率简化计算模型，并对X光CCD表面油沾污对量子效率的影响进行了实验研究和修正。结果表明经过油沾污修正后的简化理论模型计算结果与实验标定结果符合较好。
    Abstract: Response of X-ray charge coupled device (CCD) to soft x rays were calibrated on Beijing Synchrotron Radiation Facility, and the experimental results have been obtained in photon energy range of 150eV to 1500eV. Then, a simple model was developed to simulate the calibrated results. The effect of CCD surface contamination on CCD response to x rays has also been investigated.
    • HTML全文
    • 参考文献(0)
    • 相关文章
    • 施引文献
  • 资源附件(0)
  • 加载中
WeChat 点击查看大图
计量
  • 文章访问数:  2081
  • HTML全文浏览量:  252
  • PDF下载量:  702
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 刊出日期:  2000-10-15

目录

    /

    返回文章
    返回

    版权所有 © 2014 中国工程物理研究院科技信息中心 蜀ICP备11018116号-4

    通信地址: 四川省绵阳919信箱805分信箱 (621900)刊社地址: 四川省绵阳市游仙区科学城科技信息中心电话: 0816-2485753传真：0816-2483701Email：HPLPB@caep.cn

    本系统由 北京仁和汇智信息技术有限公司 开发 技术支持: info@rhhz.net   百度统计