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基于高储能密度电容退化数据的可靠性评估

冯静 周经伦 孙权

冯静, 周经伦, 孙权. 基于高储能密度电容退化数据的可靠性评估[J]. 强激光与粒子束, 2006, 18(08).
引用本文: 冯静, 周经伦, 孙权. 基于高储能密度电容退化数据的可靠性评估[J]. 强激光与粒子束, 2006, 18(08).
feng jing, zhou jing-lun, sun quan. Reliability assessment for capacitor bank with high specific energy storage based on degradation information[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2006, 18.
Citation: feng jing, zhou jing-lun, sun quan. Reliability assessment for capacitor bank with high specific energy storage based on degradation information[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2006, 18.

基于高储能密度电容退化数据的可靠性评估

Reliability assessment for capacitor bank with high specific energy storage based on degradation information

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  • 刊出日期:  2006-08-15

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