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低温退火对HgCdTe中波光导器件γ辐照效应的影响

白云 乔辉 李向阳 龚海梅

白云, 乔辉, 李向阳, 等. 低温退火对HgCdTe中波光导器件γ辐照效应的影响[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(02).
引用本文: 白云, 乔辉, 李向阳, 等. 低温退火对HgCdTe中波光导器件γ辐照效应的影响[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(02).
bai yun, qiao hui, li xiang-yang, et al. Effects of annealing on HgCdTe detectors after γ irradiation[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2007, 19.
Citation: bai yun, qiao hui, li xiang-yang, et al. Effects of annealing on HgCdTe detectors after γ irradiation[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2007, 19.

低温退火对HgCdTe中波光导器件γ辐照效应的影响

Effects of annealing on HgCdTe detectors after γ irradiation

  • 摘要: 研究了低温退火对HgCdTe中波光导探测器γ射线辐照效应的影响。经过剂量为1 Mrad的辐照后,器件的性能下降。对经过辐照的器件进行低温退火,退火温度范围为313~333 K,退火时间在5~16 h之间不等。在相同条件下测量了器件辐照前后及不同退火温度、不同退火时间下的体电阻、响应率、探测率和响应光谱。通过对比辐照前后及不同退火温度下性能参数的变化,分析了退火对器件的γ辐照效应的影响。实验表明:低温退火对辐照引起的性能的下降有一定的恢复作用。
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出版历程
  • 刊出日期:  2007-02-15

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