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单离子束技术概述

詹福如 许明亮 许永建 余增亮

詹福如, 许明亮, 许永建, 等. 单离子束技术概述[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(11).
引用本文: 詹福如, 许明亮, 许永建, 等. 单离子束技术概述[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(11).
zhan fu-ru, xu ming-liang, xu yong-jian, et al. Review of single ion microbeam technology[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2007, 19.
Citation: zhan fu-ru, xu ming-liang, xu yong-jian, et al. Review of single ion microbeam technology[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2007, 19.

单离子束技术概述

Review of single ion microbeam technology

  • 摘要: 对单离子束的发展和应用作了介绍。结合我国首台单离子束装置CAS-LIBB,综合讨论了准直器限流型和静电透镜聚焦型两种典型单离子束的技术结构。限流型结构简单但定位精度有限,聚焦型条件苛刻但可获得亚微米束,是单离子束发展的趋势。评估了前探测、全前置探测和后探测3种单离子束探测方式及其特点,研究了这3种探测方式对辐照离子的计数精度和单离子束品质产生的影响。对CAS-LIBB装置研制了光导型全前置探测器以提高计数精度和束流品质。最后设计了快速荧光在线检测技术方案。
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出版历程
  • 刊出日期:  2007-11-15

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