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用于测量Z箍缩铝等离子体K层辐射的邻苯二甲酸氢铊弯晶摄谱仪

吴刚 邱爱慈 吕敏 黑东炜 盛亮 魏福利 蒯斌 王亮平 丛培天 雷天时 韩娟娟 孙铁平

吴刚, 邱爱慈, 吕敏, 等. 用于测量Z箍缩铝等离子体K层辐射的邻苯二甲酸氢铊弯晶摄谱仪[J]. 强激光与粒子束, 2009, 21(07).
引用本文: 吴刚, 邱爱慈, 吕敏, 等. 用于测量Z箍缩铝等离子体K层辐射的邻苯二甲酸氢铊弯晶摄谱仪[J]. 强激光与粒子束, 2009, 21(07).
wu gang, qiu aici, hei dongwei, et al. TAP curved crystal spectrometer for diagnosing K-shell radiation of aluminum Z-pinch plasma[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2009, 21.
Citation: wu gang, qiu aici, hei dongwei, et al. TAP curved crystal spectrometer for diagnosing K-shell radiation of aluminum Z-pinch plasma[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2009, 21.

用于测量Z箍缩铝等离子体K层辐射的邻苯二甲酸氢铊弯晶摄谱仪

TAP curved crystal spectrometer for diagnosing K-shell radiation of aluminum Z-pinch plasma

  • 摘要: 基于邻苯二甲酸氢铊(TAP)弯晶和软X射线分幅相机建立了一套4通道的时空分辨弯晶摄谱仪,测谱范围1 500~2 300 eV,时间分辨约2 ns。分析了谱仪各环节的信号传递和转换过程对系统谱响应的影响。利用该谱仪在“强光一号”加速器(约1.5 MA, 80~100 ns)Al丝阵Z箍缩实验中获得了时间分辨及时间积分的Al等离子体K层辐射谱,记录到了类H、类He离子主要共振线及类Li、类He离子双电子复合伴线。将摄谱结果与分能区X射线图像进行了比较。时间分辨的发射谱相对强度与积分结果有明显不同,反映了等离子体在5~10 ns时间尺度上的电子温度和离子布居变化。
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  • 刊出日期:  2009-07-15

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