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质子照相中成像磁透镜系统对次级质子的消除

刘进 章林文 施将君 刘军

刘进, 章林文, 施将君, 等. 质子照相中成像磁透镜系统对次级质子的消除[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22(12).
引用本文: 刘进, 章林文, 施将君, 等. 质子照相中成像磁透镜系统对次级质子的消除[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22(12).
liu jin, zhang linwen, shi jiangjun, et al. Secondary proton removing effects of imaging lenses in proton radiography[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.
Citation: liu jin, zhang linwen, shi jiangjun, et al. Secondary proton removing effects of imaging lenses in proton radiography[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.

质子照相中成像磁透镜系统对次级质子的消除

Secondary proton removing effects of imaging lenses in proton radiography

  • 摘要: 为了解成像磁透镜系统使用对提高质子照相品质的作用,研究了成像磁透镜系统对核反应产生的次级质子的消除作用。利用MCNPX模拟了次级质子的能谱,结果表明:次级质子的平均能量不足照相质子束的50%。从次级质子的能量特性和成像系统质子运动学方面的分析表明:成像磁透镜系统可消除次级质子的影响。利用程序MCNPX对含成像磁透镜系统的质子照相进行了模拟,结果显示:成像磁透镜系统将次级质子对光程的影响减小到2%以下,显著提高了图像品质。
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  • 刊出日期:  2010-12-07

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