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杆箍缩二极管X射线焦斑的成像法测量

宋顾周 朱宏权 韩长材 马继明 张占宏 李宏云 杨海亮

宋顾周, 朱宏权, 韩长材, 等. 杆箍缩二极管X射线焦斑的成像法测量[J]. 强激光与粒子束, 2011, 23(02).
引用本文: 宋顾周, 朱宏权, 韩长材, 等. 杆箍缩二极管X射线焦斑的成像法测量[J]. 强激光与粒子束, 2011, 23(02).
song guzhou, zhu hongquan, han changcai, et al. Imaging measurement of X-ray spot of rod-pinch diode radiographic source[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2011, 23.
Citation: song guzhou, zhu hongquan, han changcai, et al. Imaging measurement of X-ray spot of rod-pinch diode radiographic source[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2011, 23.

杆箍缩二极管X射线焦斑的成像法测量

Imaging measurement of X-ray spot of rod-pinch diode radiographic source

  • 摘要: X射线源的焦斑尺寸是反映杆箍缩二极管射线源成像性能的重要参数。利用针孔成像法对MeV级脉冲X射线源的焦斑进行了2维图像测量。厚针孔采用直孔段加单锥体结构,直孔段孔径为0.2 mm。对于0.5 MeV的X射线,5倍成像倍率下调制传递函数值为0.5时空间分辨达到2.0 lp·mm-1。图像采集系统由闪烁体、物镜和CCD相机组成,物镜的成像倍率约0.34。实验结果经过模糊校正后,得到了焦斑的图像和调制传递函数。根据调制传递函数值为0.5时对应的空间频率值,给出X射线源焦斑的尺寸。阳极杆直径为1.2 mm时,X射线源焦斑的高斯分布等效直径为0.86 mm。
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  • 刊出日期:  2011-01-25

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