留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估技术研究

何宝平,  王桂珍,  龚建成,  周辉,  郭红霞

downloadPDF
文章导航 > 强激光与粒子束  > 2003 >  15(03): 0-
何宝平, 王桂珍, 龚建成, 等. 空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估技术研究[J]. 强激光与粒子束, 2003, 15(03).
引用本文: 何宝平, 王桂珍, 龚建成, 等. 空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估技术研究[J]. 强激光与粒子束, 2003, 15(03).
shu
he bao ping, wang gui zhen, gong jian cheng, et al. Estimating research on space low dose rate radiationinduced charge effects[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2003, 15.
Citation: he bao ping, wang gui zhen, gong jian cheng, et al. Estimating research on space low dose rate radiationinduced charge effects[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2003, 15.
shu

空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估技术研究

  • 1.

    西北核技术研究所, 陕西 西安 71 061 3

Estimating research on space low dose rate radiationinduced charge effects

  • 1.

    Northwest Institute of Nuclear Technology,P.O.Box 69 13,Xi’an 710613,China

    摘要
  • 摘要: 介绍了LC4007RHA和LC4007RHB两种器件空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估情况，研究结果表明：在MIL-STD-883C 测试方法1019.4的基础上，60Co辐照加25℃室温退火,可以提供对空间氧化物陷阱电荷效应相对于1019.4不太保守的估计；另外，就美军标1019.4测试方法中利用100℃ 168h高温加速“反弹”实验来检验空间环境中与界面态相关的失效可能出现的现象进行了讨论。
    Abstract: This paper presents an estimate method on radiationinduced charge effect from LC4007A and LC4007B device in lowdose space environment. According to the result, on the basis of MILSTD 883C, Test Method 1019.4, 60Co irradiation plus 25℃ annealing can provide effects of oxidetrip charge on MOS device response in space that is estimated significantly less conservative than MILSTD 883C, Test Method 1019.4. The possible phenomena of oneweek hightemperature anneal in MILSTD 883C, Test Method 1019.4 detecting interfacetrip related failures in MOS devices were discussed.
    • HTML全文
    • 参考文献(0)
    • 相关文章
    • 施引文献
  • 资源附件(0)
  • 加载中
WeChat 点击查看大图
计量
  • 文章访问数:  2076
  • HTML全文浏览量:  197
  • PDF下载量:  395
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 刊出日期:  2003-03-15

目录

    /

    返回文章
    返回

    版权所有 © 2014 中国工程物理研究院科技信息中心 蜀ICP备11018116号-4

    通信地址: 四川省绵阳919信箱805分信箱 (621900)刊社地址: 四川省绵阳市游仙区科学城科技信息中心电话: 0816-2485753传真：0816-2483701Email：HPLPB@caep.cn

    本系统由 北京仁和汇智信息技术有限公司 开发 技术支持: info@rhhz.net   百度统计