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金阴极微通道板探测器X射线段的能谱响应

袁铮 陈韬 曹柱荣 孙可煦 易荣清 刘慎业

袁铮, 陈韬, 曹柱荣, 等. 金阴极微通道板探测器X射线段的能谱响应[J]. 强激光与粒子束, 2011, 23(03).
引用本文: 袁铮, 陈韬, 曹柱荣, 等. 金阴极微通道板探测器X射线段的能谱响应[J]. 强激光与粒子束, 2011, 23(03).
yuan zheng, chen tao, cao zhurong, et al. Energy dependent sensitivity of Au-coated-microchannel plate detector in X-ray range[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2011, 23.
Citation: yuan zheng, chen tao, cao zhurong, et al. Energy dependent sensitivity of Au-coated-microchannel plate detector in X-ray range[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2011, 23.

金阴极微通道板探测器X射线段的能谱响应

Energy dependent sensitivity of Au-coated-microchannel plate detector in X-ray range

  • 摘要: 利用表面镀金阴极膜的微通道板(MCP)构成一种金阴极MCP光电探测器,根据MCP的电阻电容特性提出了一种特殊的能谱响应测量方法。在北京同步辐射3B3中能束线上对该探测器在2.1~6.0 keV能段的谱响应进行了实验标定。以美国NIST绝对定标的美国IRD公司生产的AXUV-100硅光二极管为次级标准探测器,标定金膜厚度分别为25和100 nm的金阴极MCP探测器的能谱响应。经分析发现,阴极材料和MCP材料的元素吸收边是造成量子效率曲线出现突变点的原因。对比两种MCP的能谱响应标定结果,金膜厚度为100 nm探测器的能谱响应高于金膜厚度为25 nm的探测器。
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  • 刊出日期:  2011-03-15

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