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60keV质子辐照对TiNi记忆合金薄膜马氏体相变的影响

王治国 祖小涛 雷雨 莫华强 傅永庆

王治国, 祖小涛, 雷雨, 等. 60keV质子辐照对TiNi记忆合金薄膜马氏体相变的影响[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(11).
引用本文: 王治国, 祖小涛, 雷雨, 等. 60keV质子辐照对TiNi记忆合金薄膜马氏体相变的影响[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(11).
wang zhi-guo, zu xiao-tao, lei yu, et al. Influence of 60keV proton irradiation on the transformation behavior of a TiNi shape memory alloy thin film[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16.
Citation: wang zhi-guo, zu xiao-tao, lei yu, et al. Influence of 60keV proton irradiation on the transformation behavior of a TiNi shape memory alloy thin film[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16.

60keV质子辐照对TiNi记忆合金薄膜马氏体相变的影响

Influence of 60keV proton irradiation on the transformation behavior of a TiNi shape memory alloy thin film

  • 摘要: 利用磁控溅射的方法在氧化后的单晶Si基片上制备了TiNi形状记忆合金薄膜,利用示差扫描量热法和原位X射线衍射研究了薄膜的马氏体相变特征。通过60keV质子注入(辐照)薄膜样品研究了H+离子对合金薄膜马氏体相变特征的影响,结果表明氢离子注入后引起了马氏体相变开始Ms和结束点Mf以及逆马氏体相变开始As和结束温度Af的下降,而对R相变开始Rs和结束温度Rf影响不大。掠入射X射线衍射表明H+离子注入后有氢化物形成。H+离子注入形成的氢化物是引起相变点的变化的主要因素。
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出版历程
  • 刊出日期:  2004-11-15

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