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滤片-XRD探测系统响应时间测量

孙可煦 江少恩 易荣清 黄翼翔 崔延莉 李朝光

孙可煦, 江少恩, 易荣清, 等. 滤片-XRD探测系统响应时间测量[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(12).
引用本文: 孙可煦, 江少恩, 易荣清, 等. 滤片-XRD探测系统响应时间测量[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(12).
sun ke-xu, jiang shao-en, yi rong-qing, et al. Response time measurement for a filter-X-ray diode detection system[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16.
Citation: sun ke-xu, jiang shao-en, yi rong-qing, et al. Response time measurement for a filter-X-ray diode detection system[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16.

滤片-XRD探测系统响应时间测量

Response time measurement for a filter-X-ray diode detection system

  • 摘要: 研究了软X射线能谱仪探测道系统(系统包括X射线二极管(XRD)、SUJ-50-10电缆和不同频带示波器)的响应时间。实验利用上海激光联合实验室的20TW激光器激光(激光能量约20J,脉冲宽度约1ps)打金箔靶产生的X光,用XRD探测系统测量,记录示波器有TK684C,TK694C和WM8500等。将实验数据进行了线性拟合和比对分析。滤片XRD探测系统的响应时间随偏压升高而加快,随传输电缆长度的增加而变慢,因此测量快信号过程时,应提高探测器偏压,缩短传输电缆,选择宽频带高采样率示波器,以便减少系统的响应时间,减小信号失真程度。
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出版历程
  • 刊出日期:  2004-12-15

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