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10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量

杨富 黄伟 张彬 齐文宗 蔡邦维

杨富, 黄伟, 张彬, 等. 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(03).
引用本文: 杨富, 黄伟, 张彬, 等. 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(03).
yang fu, huang wei, zhang bin, et al. Measurement of weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16.
Citation: yang fu, huang wei, zhang bin, et al. Measurement of weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2004, 16.

10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量

Measurement of weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser

  • 摘要: 建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置,对10.6μm CO2激光辐照下镀制在Ge基底上的不同厚度的单层ZnS,YbF3薄膜,以及镀制在Ge基底上不同膜系的(YbF3/ZnSe)多层分光膜的弱吸收进行了测量,并对实验结果作了分析和讨论。实验结果表明,利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10-4,测量系统的灵敏度为10-5。
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出版历程
  • 刊出日期:  2004-03-15

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