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相干合成子光束一致性检测研究

李彬 叶一东 颜宏 卢飞 罗佳 陈黎 田飞 马立斌

李彬, 叶一东, 颜宏, 等. 相干合成子光束一致性检测研究[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 081010. doi: 10.11884/HPLPB201426.081010
引用本文: 李彬, 叶一东, 颜宏, 等. 相干合成子光束一致性检测研究[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 081010. doi: 10.11884/HPLPB201426.081010
Li Bin, Ye Yidong, Yan Hong, et al. Uniform testing of beams in laser coherent beam combination[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26: 081010. doi: 10.11884/HPLPB201426.081010
Citation: Li Bin, Ye Yidong, Yan Hong, et al. Uniform testing of beams in laser coherent beam combination[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26: 081010. doi: 10.11884/HPLPB201426.081010

相干合成子光束一致性检测研究

doi: 10.11884/HPLPB201426.081010
详细信息
    通讯作者:

    李彬

Uniform testing of beams in laser coherent beam combination

  • 摘要: 分析了激光相干合成装置及其光路调整要求,提出利用剪切干涉检测合成光路中子光束一致性的方法。分析剪切干涉原理,建立了剪切板干涉物理模型,以相干合成中两路矩形光束拼接组束为例,数值模拟并研究了子光束的整体倾斜、离焦所对应的剪切干涉条纹,得到了条纹图像与子光束光轴误差、离焦误差之间的对应关系,用于相干合成光路中子光束光轴和发散角误差的判断。光轴倾斜大于5 rad时,可以直接观察互干涉和自干涉条纹变化,发散角在大于10 rad时,干涉条纹变化明显。此外,剪切干涉的自干涉条纹平移可用来检测子光束间的活塞误差,可作为光束拼接相干合成中闭环相位检测和控制的手段。
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出版历程
  • 收稿日期:  2013-09-10
  • 修回日期:  2014-03-05
  • 刊出日期:  2014-06-26

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