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折射率调制脉冲射线探测技术原理验证

彭博栋 宋岩 盛亮 王培伟 袁媛 黑东炜 赵军

彭博栋, 宋岩, 盛亮, 等. 折射率调制脉冲射线探测技术原理验证[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 114005. doi: 10.11884/HPLPB201426.114005
引用本文: 彭博栋, 宋岩, 盛亮, 等. 折射率调制脉冲射线探测技术原理验证[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 114005. doi: 10.11884/HPLPB201426.114005
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Citation: Peng Bodong, Song Yan, Sheng Liang, et al. Validation of radiation detecting technology based on refractive index modulation[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26: 114005. doi: 10.11884/HPLPB201426.114005

折射率调制脉冲射线探测技术原理验证

doi: 10.11884/HPLPB201426.114005
详细信息
    通讯作者:

    彭博栋

Validation of radiation detecting technology based on refractive index modulation

  • 摘要: 为验证折射率调制的脉冲射线束探测技术,建立了原理验证系统。该系统基于平行平板干涉原理,测量传感介质的折射率在射线激发下的瞬时变化。传感介质为GaAs,探针光为1310 nm单模激光,外界激发射线源平均能量为300 keV,脉宽为20 ns。使用带宽775 kHz的近红外InGaAs光电探测器,观测到了GaAs晶体在脉冲射线激发下的折射率变化。初步理论分析表明,射线脉冲在GaAs中产生的非平衡载流子浓度为1014 cm-3量级,折射率变化为10-6量级。折射率变化的实验结果与理论计算在量级上是符合的。实验结果表明,基于折射率调制的脉冲射线束探测技术基本可行,利用该系统可进一步发展高时间分辨的脉冲射线束探测技术。
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出版历程
  • 收稿日期:  2014-06-11
  • 修回日期:  2014-09-04
  • 刊出日期:  2014-11-04

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