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电子学系统强电磁脉冲干扰场路结合仿真

孙凤杰 邓建红

孙凤杰, 邓建红. 电子学系统强电磁脉冲干扰场路结合仿真[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27: 124003. doi: 10.11884/HPLPB201527.124003
引用本文: 孙凤杰, 邓建红. 电子学系统强电磁脉冲干扰场路结合仿真[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27: 124003. doi: 10.11884/HPLPB201527.124003
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Citation: Sun Fengjie, Deng Jianhong. Field-circuit co-simulation of electromagnetic pulse interference to electronics[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2015, 27: 124003. doi: 10.11884/HPLPB201527.124003

电子学系统强电磁脉冲干扰场路结合仿真

doi: 10.11884/HPLPB201527.124003
详细信息
    通讯作者:

    孙凤杰

Field-circuit co-simulation of electromagnetic pulse interference to electronics

  • 摘要: 对设备机箱内部某串口电路受外界强电磁脉冲干扰所引起的信号完整性问题进行了研究,基于场路结合的仿真分析方法,从空间电磁耦合现象和电路信号干扰效应这两个方面对强电磁脉冲干扰进行了完整的系统分析,发现电磁干扰可导致内部电路出现逻辑电平翻转等扰乱效果,并提出了有效避免电磁干扰的措施。
  • 期刊类型引用(5)

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出版历程
  • 收稿日期:  2015-07-29
  • 修回日期:  2015-09-22
  • 刊出日期:  2015-11-26

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