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串级二极管工作过程的电路分析

来定国 邱孟通 徐启福 杨莉 黄种亮 苏兆锋 杨实

来定国, 邱孟通, 徐启福, 等. 串级二极管工作过程的电路分析[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28: 015025. doi: 10.11884/HPLPB201628.015025
引用本文: 来定国, 邱孟通, 徐启福, 等. 串级二极管工作过程的电路分析[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28: 015025. doi: 10.11884/HPLPB201628.015025
Lai Dingguo, Qiu Mengtong, Xu Qifu, et al. Circuit analysis of series diode working process[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28: 015025. doi: 10.11884/HPLPB201628.015025
Citation: Lai Dingguo, Qiu Mengtong, Xu Qifu, et al. Circuit analysis of series diode working process[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28: 015025. doi: 10.11884/HPLPB201628.015025

串级二极管工作过程的电路分析

doi: 10.11884/HPLPB201628.015025
详细信息
    通讯作者:

    来定国

Circuit analysis of series diode working process

  • 摘要: 介绍了利用串级二极管产生大面积脉冲硬X射线的基本原理,建立了串级二极管的等效电路模型,分析了二极管串联工作过程,通过模拟计算给出了串级二极管工作过程的影响因素。串级二极管分压过程分为电容分压、阻抗和容抗分压、真空击穿后动态平衡及阻抗分压四个阶段,二极管电容和真空击穿电压是影响二极管串联初始阶段分压的主要因素,二极管的阻抗变化过程和二极管间隙的击穿时间差决定二极管分压的一致性。
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-09-15
  • 修回日期:  2015-11-20
  • 刊出日期:  2016-01-04

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