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基于微波光子学的高功率微波测量

李义民 邢建泉 王兰

李义民, 邢建泉, 王兰. 基于微波光子学的高功率微波测量[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28: 033028. doi: 10.11884/HPLPB201628.033028
引用本文: 李义民, 邢建泉, 王兰. 基于微波光子学的高功率微波测量[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28: 033028. doi: 10.11884/HPLPB201628.033028
Li Yimin, Xing Jianquan, Wang Lan. High power microwave measurement based on microwave photonics[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28: 033028. doi: 10.11884/HPLPB201628.033028
Citation: Li Yimin, Xing Jianquan, Wang Lan. High power microwave measurement based on microwave photonics[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28: 033028. doi: 10.11884/HPLPB201628.033028

基于微波光子学的高功率微波测量

doi: 10.11884/HPLPB201628.033028
详细信息
    通讯作者:

    李义民

High power microwave measurement based on microwave photonics

  • 摘要: 高功率微波(HPM)测量诊断技术是HPM技术研究的一项重要内容。针对HPM测量的现实需求, 研究采用微波光子技术建立测量系统, 阐述了系统测量原理, 并通过仿真对测量系统的性能进行了分析。设计的测量系统采用超宽带、大动态的电光调制器和光电检测器, 利用光纤进行远距离遥控测量, 消除辐射和传导干扰, 最终可达到40 GHz的测量带宽和100 dB/Hz2/3的无杂散动态范围。
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-10-23
  • 修回日期:  2015-12-18
  • 刊出日期:  2016-03-15

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