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中子数字成像FPGA抗辐照技术研究

黄继鹏 田睿 王延杰 王连明 孟艳丽

黄继鹏, 田睿, 王延杰, 等. 中子数字成像FPGA抗辐照技术研究[J]. 强激光与粒子束, 2017, 29: 074001. doi: 10.11884/HPLPB201729.170009
引用本文: 黄继鹏, 田睿, 王延杰, 等. 中子数字成像FPGA抗辐照技术研究[J]. 强激光与粒子束, 2017, 29: 074001. doi: 10.11884/HPLPB201729.170009
Huang Jipeng, Tian Rui, Wang Yanjie, et al. Radiation hardening techniques for neutron digital imaging FPGA[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2017, 29: 074001. doi: 10.11884/HPLPB201729.170009
Citation: Huang Jipeng, Tian Rui, Wang Yanjie, et al. Radiation hardening techniques for neutron digital imaging FPGA[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2017, 29: 074001. doi: 10.11884/HPLPB201729.170009

中子数字成像FPGA抗辐照技术研究

doi: 10.11884/HPLPB201729.170009
详细信息
    通讯作者:

    王连明

Radiation hardening techniques for neutron digital imaging FPGA

  • 摘要: 中子数字成像试验中,现场可编程门阵列(FPGA)是重要的成像逻辑控制器件。然而,中子辐照易引起FPGA的单粒子效应,对中子成像引入本底噪声,因此必须采取措施,减少中子辐照对FPGA成像的影响。结合图像周期性的特点,采用三判二的技术方法替代三模冗余,裁决成像关键信号;采用硬件实现的中值滤波算法,平滑由于RAM区单粒子翻转等原因呈现在图像上的噪点。仿真结果表明,本文采用的两种技术方法不但降低资金成本,提高FPGA资源冗余度,而且在取得良好的抗辐照滤波效果的同时,保留图像细节。时序仿真和硬件平台验证了设计的正确性。
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出版历程
  • 收稿日期:  2017-01-11
  • 修回日期:  2017-03-20
  • 刊出日期:  2017-07-15

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