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Z箍缩等离子体均匀色散晶体光谱成像

鲁建 阳庆国 肖沙里 黄显宾 蔡红春

鲁建, 阳庆国, 肖沙里, 等. Z箍缩等离子体均匀色散晶体光谱成像[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 0357-360. doi: 10.3788/HPLPB20122402.0357
引用本文: 鲁建, 阳庆国, 肖沙里, 等. Z箍缩等离子体均匀色散晶体光谱成像[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 0357-360. doi: 10.3788/HPLPB20122402.0357
Lu Jian, Yang Qingguo, Xiao ShaLi, et al. Z-pinch plasma spectral imaging with uniform dispersion crystal[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 0357-360. doi: 10.3788/HPLPB20122402.0357
Citation: Lu Jian, Yang Qingguo, Xiao ShaLi, et al. Z-pinch plasma spectral imaging with uniform dispersion crystal[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 0357-360. doi: 10.3788/HPLPB20122402.0357

Z箍缩等离子体均匀色散晶体光谱成像

doi: 10.3788/HPLPB20122402.0357
详细信息
    通讯作者:

    肖沙里

Z-pinch plasma spectral imaging with uniform dispersion crystal

  • 摘要: 为了诊断Z箍缩等离子体X射线相关信息,利用自聚焦和均匀色散原理,研制了一种新型的均匀色散弯晶谱仪。晶体分析器采用-石英(1010),布拉格角为43.4~72.7,利用有效面积为10 mm50 mm的X射线胶片接收光谱信号,实验在中国工程物理研究院阳加速器装置上进行,摄谱元件获得了Z箍缩铝丝阵等离子体的类H及类He谱线。实验结果表明:谱线分布遵循均匀色散条件,所研制均匀色散弯晶谱仪线色散率为-116.198 mm/nm,与理论值-120 mm/nm的相对误差为3.168%,能够用于Z箍缩等离子体X射线的光谱学研究。
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-06-30
  • 刊出日期:  2012-02-15

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