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多间隙气体开关绝缘子寿命

孙铁平 丛培天 曾正中 黄涛 王亮平

孙铁平, 丛培天, 曾正中, 等. 多间隙气体开关绝缘子寿命[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 571-575. doi: 10.3788/HPLPB20122403.0571
引用本文: 孙铁平, 丛培天, 曾正中, 等. 多间隙气体开关绝缘子寿命[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 571-575. doi: 10.3788/HPLPB20122403.0571
Sun Tieping, Cong Peitian, Zeng Zhengzhong, et al. Lifetime of insulator used for multi-gap gas switch[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 571-575. doi: 10.3788/HPLPB20122403.0571
Citation: Sun Tieping, Cong Peitian, Zeng Zhengzhong, et al. Lifetime of insulator used for multi-gap gas switch[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 571-575. doi: 10.3788/HPLPB20122403.0571

多间隙气体开关绝缘子寿命

doi: 10.3788/HPLPB20122403.0571
详细信息
    通讯作者:

    孙铁平

Lifetime of insulator used for multi-gap gas switch

  • 摘要: 针对设计的一种堆栈式结构多间隙气体开关,分析了绝缘子污染对开关寿命的影响机理。对绝缘子表面电场分布进行了模拟计算,实验研究了绝缘子污染对开关自击穿电压的影响,得到了开关自击穿电压和绝缘子表面绝缘电阻的变化规律,开关在放电电流32 kA实验条件下工作13 000次后,自击穿电压平均值由171.5 kV降低至130.8 kV,绝缘子表面绝缘电阻由200 G下降至22.6 G,绝缘子已无法正常使用。同时提出了提高绝缘子抗污染能力、延长绝缘子寿命的措施和方法。
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-10-25
  • 刊出日期:  2012-03-05

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