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HT-7托卡马克等离子体密度调制实验中的逃逸电子行为

卢洪伟 查学军 钟方川 胡立群 周瑞杰

卢洪伟, 查学军, 钟方川, 等. HT-7托卡马克等离子体密度调制实验中的逃逸电子行为[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 2655-2659. doi: 10.3788/HPLPB20122411.2655
引用本文: 卢洪伟, 查学军, 钟方川, 等. HT-7托卡马克等离子体密度调制实验中的逃逸电子行为[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 2655-2659. doi: 10.3788/HPLPB20122411.2655
Lu Hongwei, Zha Xuejun, Zhong Fangchuan, et al. Runaway electron behavior in plasma density modulation experiments in HT-7 Tokamak[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 2655-2659. doi: 10.3788/HPLPB20122411.2655
Citation: Lu Hongwei, Zha Xuejun, Zhong Fangchuan, et al. Runaway electron behavior in plasma density modulation experiments in HT-7 Tokamak[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 2655-2659. doi: 10.3788/HPLPB20122411.2655

HT-7托卡马克等离子体密度调制实验中的逃逸电子行为

doi: 10.3788/HPLPB20122411.2655
详细信息
    通讯作者:

    卢洪伟

Runaway electron behavior in plasma density modulation experiments in HT-7 Tokamak

  • 摘要: 在HT-7托卡马克的等离子体密度调制实验中,通过对欧姆和低杂波电流驱动两种放电条件下等离子体逃逸电子辐射行为的研究,验证了非准稳态等离子体中逃逸电子的产生机制,研究了欧姆和低杂波电流驱动两种放电条件下的大量充气对等离子体整体约束性能的影响。研究结果发现:放电过程中额外的大量工作气体的充入使等离子体偏离了准稳态,逃逸电子初级产生机制和次级产生机制准稳态的假设条件被打破,这时候需要利用非准稳态条件下修正后的逃逸电子归一化阈值速度来解释逃逸电子的辐射行为; 同时也发现放电过程中额外的大量工作气体的充入将使等离子体的整体约束性能变差。
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-09-26
  • 修回日期:  2012-02-22
  • 刊出日期:  2012-11-01

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