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薄板型介质材料复介电常数的无损测量

程国新 袁成卫 刘列

程国新, 袁成卫, 刘列. 薄板型介质材料复介电常数的无损测量[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 2045-2049. doi: 10.3788/HPLPB20132508.2045
引用本文: 程国新, 袁成卫, 刘列. 薄板型介质材料复介电常数的无损测量[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 2045-2049. doi: 10.3788/HPLPB20132508.2045
Cheng Guoxin, Yuan Chengwei, Liu Lie. Non-destructive measurement of complex permittivity of dielectric slabs[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 2045-2049. doi: 10.3788/HPLPB20132508.2045
Citation: Cheng Guoxin, Yuan Chengwei, Liu Lie. Non-destructive measurement of complex permittivity of dielectric slabs[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 2045-2049. doi: 10.3788/HPLPB20132508.2045

薄板型介质材料复介电常数的无损测量

doi: 10.3788/HPLPB20132508.2045
详细信息
    通讯作者:

    程国新

Non-destructive measurement of complex permittivity of dielectric slabs

  • 摘要: 采用带法兰结构的TE01n圆柱谐振腔,用无损检测的方法测量薄板型微波介质材料的复介电常数。利用轴向模式匹配法对谐振腔内的电磁场进行了求解,给出了相对介电常数和损耗角正切的计算公式,并利用矢量网络分析仪对几种常用微波介质材料进行了测量,其结果表明:该测量方法对相对介电常数的测量误差不超过1%,而对损耗角正切的测量误差不超过10%。该方法还具备一腔多模的测试能力,测量频率可调,可用于介质材料频率特性的测量。
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-12-14
  • 修回日期:  2013-03-18
  • 刊出日期:  2013-06-19

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