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基频HfO2/SiO2高反射薄膜激光损伤生长特性

张艳云 马彬 马宏平 焦宏飞 程鑫彬

张艳云, 马彬, 马宏平, 等. 基频HfO2/SiO2高反射薄膜激光损伤生长特性[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 2275-2280. doi: 10.3788/HPLPB20132509.2275
引用本文: 张艳云, 马彬, 马宏平, 等. 基频HfO2/SiO2高反射薄膜激光损伤生长特性[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 2275-2280. doi: 10.3788/HPLPB20132509.2275
Zhang Yanyun, Ma Bin, Ma Hongping, et al. Laser damage growth characteristics of HfO2/SiO2high reflection film at 1064 nm[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 2275-2280. doi: 10.3788/HPLPB20132509.2275
Citation: Zhang Yanyun, Ma Bin, Ma Hongping, et al. Laser damage growth characteristics of HfO2/SiO2high reflection film at 1064 nm[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 2275-2280. doi: 10.3788/HPLPB20132509.2275

基频HfO2/SiO2高反射薄膜激光损伤生长特性

doi: 10.3788/HPLPB20132509.2275

Laser damage growth characteristics of HfO2/SiO2high reflection film at 1064 nm

  • 摘要: 以1064 nm波长作用下的HfO2/SiO2高反射薄膜为研究对象,研究了高反射薄膜在损伤生长过程中分层剥落初始损伤结构的变化规律、损伤形貌特征和损伤生长阈值等特性。实验结果表明:分层剥落初始损伤结构的横向尺寸随激光能量密度的增加呈分段线性增长,破斑沿纵向拓展的损伤生长阈值是沿横向拓展的损伤生长阈值的2倍以上,初始损伤结构横向尺寸的生长率与能量密度呈指数关系,且生长阈值随着辐照次数的增加显著降低。
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-11-17
  • 修回日期:  2013-03-26
  • 刊出日期:  2013-07-17

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