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多孔硅阵列结构的形貌研究

范晓强 蒋勇 展长勇 邹宇 伍建春 黄宁康 王春芬

范晓强, 蒋勇, 展长勇, 等. 多孔硅阵列结构的形貌研究[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 2439-2442. doi: 10.3788/HPLPB20132509.2439
引用本文: 范晓强, 蒋勇, 展长勇, 等. 多孔硅阵列结构的形貌研究[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 2439-2442. doi: 10.3788/HPLPB20132509.2439
Fan Xiaoqiang, Jiang Yong, Zhan Changyong, et al. Study on morphology of silicon macropore array[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 2439-2442. doi: 10.3788/HPLPB20132509.2439
Citation: Fan Xiaoqiang, Jiang Yong, Zhan Changyong, et al. Study on morphology of silicon macropore array[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 2439-2442. doi: 10.3788/HPLPB20132509.2439

多孔硅阵列结构的形貌研究

doi: 10.3788/HPLPB20132509.2439
详细信息
    通讯作者:

    展长勇

Study on morphology of silicon macropore array

  • 摘要: 采用电化学腐蚀方法分别在HF+异丙醇(IPA)和HF+IPA+十六烷基三甲基氯化铵(CATC)溶液中制备多孔硅结构阵列,分别讨论HF酸浓度、CTAC、刻蚀电流、刻蚀时间对多孔硅阵列的形貌的影响。结果表明:在质量分数40%HF, H2O, IPA的体积比为7∶4∶29时得到优化的多孔硅阵列;腐蚀电流密度越大,孔壁越薄;初始的腐蚀会向外扩展直到形成的孔径达近10 m,在窗口8 m、间距5 m的硅片上腐蚀的孔壁表面出现小孔。CTAC的加入会使孔壁上刻蚀出小孔,并随着CTAC的增加,小孔的孔径减小,数量增加。
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-11-29
  • 修回日期:  2013-06-05
  • 刊出日期:  2013-07-17

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