留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

大口径连续相位板拼接检测误差分析

颜浩 杨春林 石琦凯 温圣林 嵇保健

颜浩, 杨春林, 石琦凯, 等. 大口径连续相位板拼接检测误差分析[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 3329-3332. doi: 3329
引用本文: 颜浩, 杨春林, 石琦凯, 等. 大口径连续相位板拼接检测误差分析[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 3329-3332. doi: 3329
Yan Hao, Yang Chunlin, Shi Qikai, et al. Error in stitching testing for large aperture continuous phase plate[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 3329-3332. doi: 3329
Citation: Yan Hao, Yang Chunlin, Shi Qikai, et al. Error in stitching testing for large aperture continuous phase plate[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 3329-3332. doi: 3329

大口径连续相位板拼接检测误差分析

doi: 3329
详细信息
    通讯作者:

    颜浩

Error in stitching testing for large aperture continuous phase plate

  • 摘要: 对大口径连续相位板(CPP)在子孔径拼接检测过程中存在的几种影响检测精度的主要因素, 包括定位误差、系统误差和拼接模式等进行了归纳并分析了其对检测精度的影响权重。通过对子孔径重叠区域分布的均匀性计算,分析了检测误差对拼接质量的影响。结果表明,定位误差是影响CPP拼接精度的主要原因,而对系统误差进行有效处理可以进一步减小重叠区非均匀性,拼接模式的选择对CPP的拼接结果的影响有限。通过CPP深度特性对重叠区域均匀性的统计分析表明,在像素级别的检测中,重叠区域均方根残差随着CPP深度的增加而线性增加,即拼接精度随CPP深度的增加而降低。
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  1131
  • HTML全文浏览量:  157
  • PDF下载量:  329
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2013-07-22
  • 修回日期:  2013-08-14
  • 刊出日期:  2013-12-15

目录

    /

    返回文章
    返回