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大口径连续相位板远场光强的离线测试实验

温圣林 石琦凯 张远航 颜浩 杨静 杨春林 王健

温圣林, 石琦凯, 张远航, 等. 大口径连续相位板远场光强的离线测试实验[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 3343-3347. doi: 3343
引用本文: 温圣林, 石琦凯, 张远航, 等. 大口径连续相位板远场光强的离线测试实验[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 3343-3347. doi: 3343
Wen Shenglin, Shi Qikai, Zhang Yuanhang, et al. Off-line measurement experiments of far-field intensity caused by large-aperture continuous phase plates[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 3343-3347. doi: 3343
Citation: Wen Shenglin, Shi Qikai, Zhang Yuanhang, et al. Off-line measurement experiments of far-field intensity caused by large-aperture continuous phase plates[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 3343-3347. doi: 3343

大口径连续相位板远场光强的离线测试实验

doi: 3343
详细信息
    通讯作者:

    温圣林

Off-line measurement experiments of far-field intensity caused by large-aperture continuous phase plates

  • 摘要: 为了准确测试和评价大口径连续相位板(CPP)元件的远场光强性能,根据激光装置需求建立了351 nm波长下大口径CPP远场光强离线测试系统,开展了330 mm330 mm口径CPP元件测试实验,并与标量衍射计算结果进行对比,分析了系统的测试重复性和测试精度。实测系统远场弥散斑大小为2.9倍衍射极限,可测试最大口径为圆形f600 mm和方形430 mm430 mm。测试系统在焦点2 mm范围内的能量集中度测试重复性优于0.2 %。计算和实验焦斑形貌及分布吻合,实测能量集中度比计算结果小0.85%、焦斑半径大13 m左右,差异由实测系统的时间匀滑作用引起,可通过缩短曝光时间和减小系统像差等措施进一步提高测试精度。
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出版历程
  • 收稿日期:  2013-07-22
  • 修回日期:  2013-08-15
  • 刊出日期:  2013-12-15

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