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叠片法测量脉冲X射线源焦斑

高屹 马继明 张众 张鹏飞 孙江 王志国 尹佳辉 梁天学 杜泰斌

高屹, 马继明, 张众, 等. 叠片法测量脉冲X射线源焦斑[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22(12).
引用本文: 高屹, 马继明, 张众, 等. 叠片法测量脉冲X射线源焦斑[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22(12).
gao yi, ma jiming, zhang zhong, et al. Spot size measurement for pulsed X-ray source with lamination method[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.
Citation: gao yi, ma jiming, zhang zhong, et al. Spot size measurement for pulsed X-ray source with lamination method[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.

叠片法测量脉冲X射线源焦斑

Spot size measurement for pulsed X-ray source with lamination method

  • 摘要: 介绍了叠片法测量脉冲X射线源焦斑的原理。对确定结构和尺寸的金属、薄膜叠片及测试系统布局,数值计算了叠片法的空间分辨及对均匀分布线光源的输出响应,得到响应曲线半高宽与焦斑尺寸的对应关系。计算结果表明,叠片法不适用于测量小于2 mm的焦斑。在感应电压叠加器上开展了阳极杆箍缩二极管实验,采用叠片法测量二极管X射线源轴向焦斑,与针孔照相结果基本相符,说明叠片法可用于脉冲X射线源焦斑尺寸测量。
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  • 刊出日期:  2010-12-07

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