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基于嵌入式系统的发射度测量仪

王家乐 程健 李楠楠

王家乐, 程健, 李楠楠. 基于嵌入式系统的发射度测量仪[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 1584-1588.
引用本文: 王家乐, 程健, 李楠楠. 基于嵌入式系统的发射度测量仪[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 1584-1588.
Wang Jiale, Cheng Jian, Li Nannan. Development of an emittance measurement instrument based on embedded system[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 1584-1588.
Citation: Wang Jiale, Cheng Jian, Li Nannan. Development of an emittance measurement instrument based on embedded system[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 1584-1588.

基于嵌入式系统的发射度测量仪

详细信息
    通讯作者:

    王家乐

Development of an emittance measurement instrument based on embedded system

  • 摘要: 基于嵌入式系统的发射度测量仪采用法拉第筒测量方法,数据采样率达到200 kHz,设计有7个不同的电流采样量程。讨论了发射度测量仪的系统构成和工作原理,详细介绍了其数据采集系统的设计与制作。通过选用高速、低噪声的集成电路芯片并组合适当大小、适宜材料的电阻和电容构建模拟链路,贯穿于整个模拟链路的滤波设计和低噪声的模拟电源技术及屏蔽防护技术都保证了低噪声采集电路的实现。实验测试表明:在量程为10 nA时,该测量仪测量精度为1.47%,量程1 000 nA时则达到0.32%;采样20 kHz的正弦波信号失真度为6.5 dB;运动精度为1.25 m时,运动速度最高3.125 mm/s。
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出版历程
  • 刊出日期:  2012-07-15

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