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微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定

黎航 曹柱荣 赵宗清 巫顺超 董建军 易荣清 陈凯

黎航, 曹柱荣, 赵宗清, 等. 微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定[J]. 强激光与粒子束, 2008, 20.
引用本文: 黎航, 曹柱荣, 赵宗清, 等. 微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定[J]. 强激光与粒子束, 2008, 20.
li hang, cao zhu-rong, zhao zong-qing, et al. Calibration of 2~5.5 keV X-ray transmissivity of microchannel plate[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2008, 20.
Citation: li hang, cao zhu-rong, zhao zong-qing, et al. Calibration of 2~5.5 keV X-ray transmissivity of microchannel plate[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2008, 20.

微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定

Calibration of 2~5.5 keV X-ray transmissivity of microchannel plate

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出版历程
  • 刊出日期:  2008-06-15

微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定

摘要: 在北京同步辐射3B3中能X射线束线2.0~5.5 keV能段对微通道板(MCP)透过率进行了测量标定。实验表明,MCP在2.0 keV的低能段处和5.5 keV的高能段处的透过率较高,而中段较低。对MCP透射和X光在MCP毛细导管列阵中的全反射两种机制进行了物理建模,分别计算验证。结果发现:X光在毛细导管内掠入射会产生全反射,且能段越低反射率越高;MCP透过率特性正是MCP特殊的结构和材料造成的,为透射和反射两种机制共同贡献的结果,低能端主要来自X光在毛细导管中的全反射贡献,高能端主要来自透射贡献。

English Abstract

黎航, 曹柱荣, 赵宗清, 等. 微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定[J]. 强激光与粒子束, 2008, 20.
引用本文: 黎航, 曹柱荣, 赵宗清, 等. 微通道板2.0~5.5 keV X射线透过率标定[J]. 强激光与粒子束, 2008, 20.
li hang, cao zhu-rong, zhao zong-qing, et al. Calibration of 2~5.5 keV X-ray transmissivity of microchannel plate[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2008, 20.
Citation: li hang, cao zhu-rong, zhao zong-qing, et al. Calibration of 2~5.5 keV X-ray transmissivity of microchannel plate[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2008, 20.

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