留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

大口径光学元件功率谱密度的统计法测量

徐建程 许乔 柴立群

徐建程, 许乔, 柴立群. 大口径光学元件功率谱密度的统计法测量[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22.
引用本文: 徐建程, 许乔, 柴立群. 大口径光学元件功率谱密度的统计法测量[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22.
xu jiancheng, xu qiao, chai liqun. Statistical measurement of power spectrum density of large aperture optical component[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.
Citation: xu jiancheng, xu qiao, chai liqun. Statistical measurement of power spectrum density of large aperture optical component[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.

大口径光学元件功率谱密度的统计法测量

Statistical measurement of power spectrum density of large aperture optical component

计量
  • 文章访问数:  1575
  • HTML全文浏览量:  133
  • PDF下载量:  654
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 刊出日期:  2010-07-12

大口径光学元件功率谱密度的统计法测量

摘要: 针对ICF系统要求,提出了一种基于统计理论的大口径光学元件功率谱密度测量方法。该方法将大口径波前划分成足够多个子区域,分别求得每个子区域波前的功率谱密度,根据统计理论可将大口径波前功率谱密度表示为各个子区域波前功率谱密度的加权平均,其权重因子是各子区域对应的面积。模拟计算和实验结果验证了统计法测量的有效性,并表明当子区域个数大于等于8×8时,统计法测量和子孔径拼接测量得到的功率谱密度吻合较好。统计法测量对平台移动精度和环境稳定性要求不高,可应用于大口径光学元件功率谱密度的过程检测。

English Abstract

徐建程, 许乔, 柴立群. 大口径光学元件功率谱密度的统计法测量[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22.
引用本文: 徐建程, 许乔, 柴立群. 大口径光学元件功率谱密度的统计法测量[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22.
xu jiancheng, xu qiao, chai liqun. Statistical measurement of power spectrum density of large aperture optical component[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.
Citation: xu jiancheng, xu qiao, chai liqun. Statistical measurement of power spectrum density of large aperture optical component[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.

目录

    /

    返回文章
    返回