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背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度

刘元琼 赵学森 雷海乐 谢端 高党忠

刘元琼, 赵学森, 雷海乐, 等. 背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22(12).
引用本文: 刘元琼, 赵学森, 雷海乐, 等. 背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22(12).
liu yuanqiong, zhao xuesen, lei haile, et al. Characterization of inner surface roughness for ICF capsules by backlit shadowgraphy[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.
Citation: liu yuanqiong, zhao xuesen, lei haile, et al. Characterization of inner surface roughness for ICF capsules by backlit shadowgraphy[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22.

背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度

Characterization of inner surface roughness for ICF capsules by backlit shadowgraphy

  • 摘要: 发展了背光阴影成像技术,用于诊断透明ICF冷冻靶冰层内表面质量。分析了单层球壳阴影图像中形成亮环的物理机制。用光学追迹软件Tracepro模拟产生了透明单层球壳的阴影图像,用于研究亮环位置与球壳厚度及折射率的关系。建立了背光阴影成像实验装置,获得了透明单层球壳具有明显亮环的实验阴影图像。编制了阴影图像处理软件,获得了靶丸内表面1维功率谱曲线,并据此计算出靶丸内表面均方根粗糙度。理论分析、软件模拟及实验研究均表明,背光阴影成像技术是透明冷冻靶冰层内表面质量的有效诊断方法。
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出版历程
  • 刊出日期:  2010-12-07

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