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合肥光源托歇克效应损失电子的探测

孙玉聪 蓝杰钦 张剑锋 徐宏亮 孙葆根

孙玉聪, 蓝杰钦, 张剑锋, 等. 合肥光源托歇克效应损失电子的探测[J]. 强激光与粒子束, 2011, 23(03).
引用本文: 孙玉聪, 蓝杰钦, 张剑锋, 等. 合肥光源托歇克效应损失电子的探测[J]. 强激光与粒子束, 2011, 23(03).
sun yucong, lan jieqin, zhang jianfeng, et al. Detection of electron loss due to Touschek effect in Hefei Light Source[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2011, 23.
Citation: sun yucong, lan jieqin, zhang jianfeng, et al. Detection of electron loss due to Touschek effect in Hefei Light Source[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2011, 23.

合肥光源托歇克效应损失电子的探测

Detection of electron loss due to Touschek effect in Hefei Light Source

  • 摘要: 束流寿命是衡量储存环性能的重要参数,直接影响着光源的正常运行。对于合肥光源(HLS),托歇克(Touschek)寿命是影响束流寿命的重要因素。为了研究Touschek寿命,需要探测由于Touschek效应所损失的电子。介绍了束流寿命的概念,说明了Touschek效应的原理和机制,利用蒙特卡罗软件EGSnrc模拟计算了丢失电子与真空壁的相互作用,通过塑料闪烁体探测器和光电倍增管获得了由于Touschek效应丢失的电子所产生的信号,然后将信号经过放大甄别和符合处理后,用计数器测量了计数率。结果表明:由于Touschek效应而成对丢失的电子的确存在,且电子损失率随流强的降低而减小。这为下一步储存环的能量标定工作做好了前期准备。
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  • 刊出日期:  2011-03-15

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