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泄能支路对CFETR失超保护系统影响分析

仝玮 宋执权 傅鹏 李华 张秀青 汪舒生

仝玮, 宋执权, 傅鹏, 李华, 张秀青, 汪舒生. 泄能支路对CFETR失超保护系统影响分析[J]. 强激光与粒子束, 2019, 31: 086001. doi: 10.11884/HPLPB201931.190050
引用本文: 仝玮, 宋执权, 傅鹏, 李华, 张秀青, 汪舒生. 泄能支路对CFETR失超保护系统影响分析[J]. 强激光与粒子束, 2019, 31: 086001. doi: 10.11884/HPLPB201931.190050
Tong Wei, Song Zhiquan, Fu Peng, Li Hua, Zhang Xiuqing, Wang Shusheng. Influence analysis of discharge branch on the reliability of quench protection system in CFETR[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2019, 31: 086001. doi: 10.11884/HPLPB201931.190050
Citation: Tong Wei, Song Zhiquan, Fu Peng, Li Hua, Zhang Xiuqing, Wang Shusheng. Influence analysis of discharge branch on the reliability of quench protection system in CFETR[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2019, 31: 086001. doi: 10.11884/HPLPB201931.190050

泄能支路对CFETR失超保护系统影响分析

doi: 10.11884/HPLPB201931.190050
详细信息
    通讯作者: 宋执权

Influence analysis of discharge branch on the reliability of quench protection system in CFETR

  • 摘要: 中国聚变工程实验堆(CFETR)是中国自主设计的下一代聚变装置,其超导线圈的电流最大达到100 kA。失超保护系统尤其是直流保护开关的可靠性对于超导线圈的保护极为重要。分析了系统中泄能回路参数对CFETR失超保护开关的动作可靠性影响,首先通过理论计算分析杂散参数对开关动作的影响趋势,然后通过仿真求解关断过程中各支路电流电压来验证计算。计算结果证明,较大的泄能支路杂散参数将改变直流开关的关断参数,并降低直流保护开关的动作可靠性。最后对泄能电阻杂散电感提出小于120 H的设计要求,确保系统安全可靠地运行。
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出版历程
  • 收稿日期:  2019-02-25
  • 修回日期:  2019-04-25
  • 刊出日期:  2019-08-15

泄能支路对CFETR失超保护系统影响分析

    通讯作者: 宋执权, zhquansong@ipp.ac.cn
  • 1. 中国科学院 合肥物质科学研究院, 等离子体物理研究所, 合肥 230031 ;
  • 2. 中国科学技术大学 科学岛分院, 合肥 230026

摘要: 中国聚变工程实验堆(CFETR)是中国自主设计的下一代聚变装置,其超导线圈的电流最大达到100 kA。失超保护系统尤其是直流保护开关的可靠性对于超导线圈的保护极为重要。分析了系统中泄能回路参数对CFETR失超保护开关的动作可靠性影响,首先通过理论计算分析杂散参数对开关动作的影响趋势,然后通过仿真求解关断过程中各支路电流电压来验证计算。计算结果证明,较大的泄能支路杂散参数将改变直流开关的关断参数,并降低直流保护开关的动作可靠性。最后对泄能电阻杂散电感提出小于120 H的设计要求,确保系统安全可靠地运行。

English Abstract

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