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BEPCII电子环寄生模损失测量

王洪磊 王牧源 杨际森 沙鹏 林海英 马强 王群要 米正辉 戴建枰 孙毅 王光伟 潘卫民

引用本文:
Citation:

BEPCII电子环寄生模损失测量

    通讯作者: 王洪磊, hlwang@ihep.ac.cn

Parasitic mode loss measurement in BEPCII e- ring

    Corresponding author: Wang Honglei, hlwang@ihep.ac.cn
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出版历程
  • 收稿日期:  2019-03-07
  • 录用日期:  2019-04-10
  • 刊出日期:  2019-08-15

BEPCII电子环寄生模损失测量

    通讯作者: 王洪磊, hlwang@ihep.ac.cn
  • 1. 中国科学院大学, 北京 1 00049;
  • 2. 中国科学院 粒子加速物理与技术重点实验室, 北京 1 00049

摘要: BEPCII在设计阶段从束流不稳定性和寄生模损失角度对阻抗提出了限制,但在BEPCII运行中寄生模损失是影响高流强稳定运行的因素之一。针对BEPCII电子环的寄生模损失进行了测量,主要是基于同步相移随流强的微小变化、束流功率测量和高阶模吸收器的功率。测量结果表明:两种方法对比测量全环寄生模损失,结果重复可信,且全环寄生模损失是超导腔寄生模损失的4~5倍。

English Abstract

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