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王洪磊, 王牧源, 杨际森, 等. BEPCII电子环寄生模损失测量[J]. 强激光与粒子束, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064
引用本文: 王洪磊, 王牧源, 杨际森, 等. BEPCII电子环寄生模损失测量[J]. 强激光与粒子束, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064
Wang Honglei, Wang Muyuan, Yang Jisen, et al. Parasitic mode loss measurement in BEPCII e- ring[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064
Citation: Wang Honglei, Wang Muyuan, Yang Jisen, et al. Parasitic mode loss measurement in BEPCII e- ring[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064

BEPCII电子环寄生模损失测量

doi: 10.11884/HPLPB201931.190064
详细信息
    通讯作者:

    王洪磊

Parasitic mode loss measurement in BEPCII e- ring

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出版历程
  • 收稿日期:  2019-03-07
  • 修回日期:  2019-04-10
  • 刊出日期:  2019-08-15

BEPCII电子环寄生模损失测量

doi: 10.11884/HPLPB201931.190064
    通讯作者: 王洪磊

摘要: BEPCII在设计阶段从束流不稳定性和寄生模损失角度对阻抗提出了限制,但在BEPCII运行中寄生模损失是影响高流强稳定运行的因素之一。针对BEPCII电子环的寄生模损失进行了测量,主要是基于同步相移随流强的微小变化、束流功率测量和高阶模吸收器的功率。测量结果表明:两种方法对比测量全环寄生模损失,结果重复可信,且全环寄生模损失是超导腔寄生模损失的4~5倍。

English Abstract

王洪磊, 王牧源, 杨际森, 等. BEPCII电子环寄生模损失测量[J]. 强激光与粒子束, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064
引用本文: 王洪磊, 王牧源, 杨际森, 等. BEPCII电子环寄生模损失测量[J]. 强激光与粒子束, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064
Wang Honglei, Wang Muyuan, Yang Jisen, et al. Parasitic mode loss measurement in BEPCII e- ring[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064
Citation: Wang Honglei, Wang Muyuan, Yang Jisen, et al. Parasitic mode loss measurement in BEPCII e- ring[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2019, 31: 085102. doi: 10.11884/HPLPB201931.190064

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