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用于平面靶X射线诊断的1维KBA显微镜

伊圣振 穆宝忠 王新 蒋励 朱京涛 王占山 方智恒 王伟 傅思祖

伊圣振, 穆宝忠, 王新, 等. 用于平面靶X射线诊断的1维KBA显微镜[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 1076-1080. doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076
引用本文: 伊圣振, 穆宝忠, 王新, 等. 用于平面靶X射线诊断的1维KBA显微镜[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 1076-1080. doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076
Yi Shengzhen, Mu Baozhong, Wang Xin, et al. One-dimensional KBA microscope for planar target diagnosis[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 1076-1080. doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076
Citation: Yi Shengzhen, Mu Baozhong, Wang Xin, et al. One-dimensional KBA microscope for planar target diagnosis[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 1076-1080. doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076

用于平面靶X射线诊断的1维KBA显微镜

doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076
详细信息
    通讯作者:

    伊圣振

One-dimensional KBA microscope for planar target diagnosis

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出版历程
  • 收稿日期:  2011-09-16
  • 刊出日期:  2012-05-15

用于平面靶X射线诊断的1维KBA显微镜

doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076
    通讯作者: 伊圣振

摘要: 对用于神光Ⅱ装置4.75 keV能点平面靶成像诊断的1维KBA显微镜进行了实验研究。基于空间分辨力和工作环境要求,设计了1维KBA显微镜的光学结构,并与传统KB显微镜的成像性能进行了对比分析。设计和制备了可同时工作于8 keV和4.75 keV能点的双能点多层膜KBA物镜,解决了系统装调问题。利用神光Ⅱ装置第九路激光打击Ti靶产生的X射线作为背光源照射1 500目金网,进行了4.75 keV网格成像实验,结果表明:在整个背光源照明区域内,系统的实际分辨力约为4 m,系统的有效视场受背光源大小的限制。

English Abstract

伊圣振, 穆宝忠, 王新, 等. 用于平面靶X射线诊断的1维KBA显微镜[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 1076-1080. doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076
引用本文: 伊圣振, 穆宝忠, 王新, 等. 用于平面靶X射线诊断的1维KBA显微镜[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 1076-1080. doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076
Yi Shengzhen, Mu Baozhong, Wang Xin, et al. One-dimensional KBA microscope for planar target diagnosis[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 1076-1080. doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076
Citation: Yi Shengzhen, Mu Baozhong, Wang Xin, et al. One-dimensional KBA microscope for planar target diagnosis[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 1076-1080. doi: 10.3788/HPLPB20122405.1076

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